Universidade Federal do Ceará
Central Analítica

Microscópio Eletrônico de Varredura Inspect S50 – FEI

• Resolução nominal de 3nm.
• Análise de superfícies de material.
• Análise em alto e baixo vácuo.
• Análise química semiquantitativa (EDS).
  • Manual AZtec.
• Litografia por feixe de elétrons.
• Manual ISNPECT S50.